主要規格：
采用LiF200、Ge111、PE002、PX1、LiF220晶體，優化準直器，超薄50um鈹窗，4KW端X光管，配備流氣探測器、Hiper高能閃爍探測器、Deplex復合探測器，以及6位置面罩轉換器（適合尺寸10-37mm樣品），68位自動進樣器。提高了分析元素的靈敏度，保證了測量數據的高重現性。
原理方法：
試樣中的原子受到適當的高能輻射激發，放射出該原子所具有的特征X射線，其強度大小與試樣中該元素的質量分數成正比。通過測量特征X射線的強度來定性定量分析試樣中各元素的質量分數。
技術指標：
4KW端X光管/50um鈹窗/5塊晶體/3塊準直器/4塊濾光片。分析濃度范圍從ppm至100%，SuperQ軟件下，Omnian、Stratos等多種數據分析方法。
應用范圍：
對固體、粉末及液體樣品進行定性及無標樣Omnian半定量分析，可對礦物、半導體、金屬、水泥、石化產品進行快速定性半定量分析，可測元素范圍從9F—92U，測定含量范圍從ppm至100% 。
樣品要求：
1.粉末樣品：提供1g以上，或按體積裝實2ml以上樣品量。過200目，樣品干燥。
2.塊體、薄膜樣品：直徑在12-50mm（推薦34-50mm）之間，高度低于20mm，測試面平整、不掉粉。
